design-for-testability 的解释、用法、例句、词组等学习资料

-for-如何发音

-for- 的发音: [dɪˈzaɪn fɔː(r) tɛstəˈbɪlɪti]

- 为 - 手段

1. 可测试性设计

-for-相关短语

1. 例如，例如；以...为例；

2. 至于，关于；说到；

3. 询问某人。为了某事向某人索要某事。

4.自找麻烦；惹祸;逗弄蜜蜂和蝎子；给自己惹麻烦；

5. 请求某事。要求某事。

6、请假；

7.寻求帮助；求人;寻求帮助；求人;借光；

8. 叫车 叫车

9. 提出要求……；要求……；要求……；惹祸;

10、抗震设计，抗震设计；

11. 为……做准备[安排]；定居;地方;

12. 争论；争论；争论；支持;同意；

13、系统结构设计、架构设计；

14. 为（建筑物或金钱）腾出空间；

15. 申请工作；

16. 申请；申请;

17.请假请假条；

18. to for 向某人请求某事

19. 因……而寻求帮助；

20. 上诉；将要;

-for- 的双语示例

1.-对于-，DFT有非常部分的CMOS芯片和。

可测试性设计（-For-，DFT）已成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分。

2.-for-（DFT）是一个很好解决的测试。

解决测试问题的一个好方法是使用可测试性设计。

3. 测试和-for-for FFT

FFT处理器的算术测试和可测试性设计

4. 基于，我们对(IIR) 进行-for- 和测试。

基于加法器测试生成网校头条，提出了一种通用的无限脉冲响应（IIR）滤波器的可测试性设计和测试方案。

5.对于逻辑部分，单元故障模型是新颖的。

逻辑模块采用新颖的可测试性设计方法，假设单元故障模型。

6. 作为电路板的测试和-For-，-Scan 已在 中。

边界扫描技术是一种标准的数字电路测试和可测试性设计方法，已在业界得到广泛应用。

7.基于DSP数据路径的-for-of-

基于累加器测试的DSP数据路径结构可测试性设计

8.低功耗MP3及其换机

低功耗MP3解码器设计及可测试性分析

9.基于-for-的扫描是测试VLSI的新方法。这可以进行VLSI测试，因此它已经进行了多年的测试。

边缘扫描测试是一种基于可测试性设计的新型测试技术，用于测试大规模集成电路（VLSI）。它可以大大降低VLSI测试生成的复杂度。近年来在电路设计和测试领域得到了广泛的应用。专注于。

10.之：对于测试成本和故障的之，-for-（DFT）之都。

可测试性的改进。为了降低测试成本、提高故障覆盖率，原有的核心电路必须进行可测试性设计。为此，本文研究了提高电路可测试性的几种措施。

11. 新颖的 for-for- (DfT) 来自快速，因为 RBF 与基于 RBF 的 FIR 一样好、速度快。

由于认识到径向基函数网络具有良好的收敛性和收敛速度，并且在计算稳定性方面也具有非常好的性能，因此作者将径向基函数网络的优化算法应用到FIR数字滤波器的设计中。

12.-for-和测试-on-a-Chip

SOC可测性设计与测试技术

13.-for-of 和混合-IC

模拟和混合信号芯片的可测试性设计

14. IIR 的测试和-for-

IIR滤波器的测试和可测试性设计

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